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Das SPECTRO ARCOS ICP-OES (Optisches Emissions-Spektrometer mit induktiv gekoppeltem Plasma) bietet Elementanalytik auf einem neuen Niveau

Das neue Dual Side-On Interface (DSOI) erhöht die Nachweisempfindlichkeit und beseitigt Probleme mit Verunreinigungen und Matrixkompatibilität
Ein Spektrometer anstatt zwei: Das einzige Gerät mit MultiView-Plasmabetrachtung –axiale UND radiale Plasmabetrachtung (einfach oder dual) in einem Gerät
ORCA-Optik: Simultane Erfassung des Spektrums in einem Wellenlängenbereich von 130 bis 770 nm mit bis zu 5x höherer Messempfindlichkeit als Echelle-Optiken – das Ergebnis: Klassenbeste Leistung im UV/VUV-Bereich

Das SPECTROGREEN mit neuer, revolutionärer „Dual Side On Interface (DSOI)“ Technologie

Dank DSOI doppelt so hohe Nachweisempfindlichkeit wie herkömmliche Geräte mit radialer Plasmabetrachtung
Das TI bietet die höchste Nachweisempfindlichkeit für Spurenelementkonzentrationen, Freiheit von Matrixinterferenzen sowie eine gute Richtigkeit für herausfordernde Matrices in der Umweltanalytik
Neues GigE Auslesesystem beschleunigt die Verarbeitung der Spektrendaten und die Datenübermittlung
Extrem agiler LDMOS-Generator kommt ohne externe Kühlung aus

So einfach ist ICP! Eine wirkliche Alternative zu AA und sequentieller ICP

Leistungsstarkes RFA-Spektrometer für die Multi-Element-Analyse

Präzise Elementanalyse – von Hauptkomponenten bis hin zu Spurenelementen
Extrem niedrige Nachweisgrenzen und hohe Empfindlichkeit – beides Grundlagen für hohe Präzision und Genauigkeit
Unterschiedliche Modellvarianten optimiert für unterschiedliche Anforderungen

SPECTROCUBE ED-RFA Spektrometer

Schnellstes Spektrometer seiner Klasse: Doppelt so schnell wie vergleichbare Geräte, hochpräzise Analysen
Herausragend in puncto Leistungsumfang und Genauigkeit: Optimierte Anwendungspakete
Unvergleichlicher Bedienkomfort: Mit drei einfachen Schritten zu genauen Analysen

Das Mikro-ED-RFA-Spektrometer für optimierte Edelmetallanalysen und Compliance Screening

Der anerkannte Maßstab für Edelmetallanalysen
Der breite Elementbereich und die umfangreiche Kalibrationsdatenbank sorgen für höchste Genauigkeit bei Spurenelementen und höheren Gehalten
Schnellste Messzeiten: Wählen Sie zwischen außergewöhnlich guten Ergebnissen bei durchschnittlicher Messzeit und Standard-Ergebnissen bei außergewöhnlich kurzen Messzeiten

Schnelle, zuverlässige und genaue Elementanalysen in Fertigung, Labor und vor Ort

Analytik in einem weiten Konzentrationsbereich, von Hauptkomponenten bis hin zu Spurenelementen
Portables Leichtgewicht im robusten, platzsparenden Design
Erhältlich mit kundenspezifischen Kalibrationen und vordefinierten Applikationspaketen
Einzigartige iCAL-Standardisierung mit einer integrierten Probe in weniger als 5 Minuten

ED-RFA-Handspektrometer-Familie

Marktführender mobiler Metallanalysator

Die einfache Wahl, wenn bei der Metallanalyse Fehler keine Option sind

ED-RFA-Handspektrometer-Familie

Die Revolution der High-End-Metallanalyse

Metallanalyse ohne Kompromisse!

Die einzigartige iCAL 2.0 Ein-Proben-Standardisierung sorgt für eine gleichbleibende Standardisierung ‒ auch bei den meisten Temperaturschwankungen ‒ und spart im Durchschnitt 30 Minuten täglich
Um 30% bis 40% verbesserte Nachweisgrenzen im Vergleich zum Vorgängermodell (Beispiel: Eisen-, Aluminium- und Kupferbasis)
Verglichen zu Vorgängermodellen bis zu 64 % geringerer Argonverbrauch im Standby
Ideal für Routineanalysen sowie für Präzisionsanalysen bei Warenein- und -ausgangskontrollen sowie im Rahmen der Prozessüberwachung (einschließlich Stickstoff) in Gießereien – inkl. 10 Matrices, 65 Methoden und 59 Elemente

Höchste Leistung und Zuverlässigkeit zu einem unschlagbaren Preis