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PRODUKTE
- Überblick
- ICP-Spektrometer
  - Das SPECTRO ARCOS ICP-OES (Optisches Emissions-Spektrometer mit induktiv gekoppeltem Plasma) bietet Elementanalytik auf einem neuen Niveau
    
    Das neue Dual Side-On Interface (DSOI) erhöht die Nachweisempfindlichkeit und beseitigt Probleme mit Verunreinigungen und Matrixkompatibilität
    
    Ein Spektrometer anstatt zwei: Das einzige Gerät mit MultiView-Plasmabetrachtung –axiale UND radiale Plasmabetrachtung (einfach oder dual) in einem Gerät
    
    ORCA-Optik: Simultane Erfassung des Spektrums in einem Wellenlängenbereich von 130 bis 770 nm mit bis zu 5x höherer Messempfindlichkeit als Echelle-Optiken – das Ergebnis: Klassenbeste Leistung im UV/VUV-Bereich
    SPECTRO ARCOS
  - Das SPECTROGREEN mit neuer, revolutionärer „Dual Side On Interface (DSOI)“ Technologie
    
    Dank DSOI doppelt so hohe Nachweisempfindlichkeit wie herkömmliche Geräte mit radialer Plasmabetrachtung
    
    Das TI bietet die höchste Nachweisempfindlichkeit für Spurenelementkonzentrationen, Freiheit von Matrixinterferenzen sowie eine gute Richtigkeit für herausfordernde Matrices in der Umweltanalytik
    
    Neues GigE Auslesesystem beschleunigt die Verarbeitung der Spektrendaten und die Datenübermittlung
    
    Extrem agiler LDMOS-Generator kommt ohne externe Kühlung aus
    SPECTROGREEN
  - So einfach ist ICP! Eine wirkliche Alternative zu AA und sequentieller ICP
    
    Simultane ICP-OES für die Elementanalytik von Flüssigkeiten
    
    Wellenlängenbereich: 175-770 nm
    
    Niedrige Betriebskosten
    
    Intuitive Bedienung
    SPECTRO GENESIS
  - Software
  - Zubehör
  - Kostenkalkulator
  - ICP-OES / ICP-AES Prinzip
- RFA-Spektrometer
  - Leistungsstarkes RFA-Spektrometer für die Multi-Element-Analyse
    
    Präzise Elementanalyse – von Hauptkomponenten bis hin zu Spurenelementen
    
    Extrem niedrige Nachweisgrenzen und hohe Empfindlichkeit – beides Grundlagen für hohe Präzision und Genauigkeit
    
    Unterschiedliche Modellvarianten optimiert für unterschiedliche Anforderungen
    SPECTRO XEPOS
  - SPECTROCUBE ED-RFA Spektrometer
    
    Schnellstes Spektrometer seiner Klasse: Doppelt so schnell wie vergleichbare Geräte, hochpräzise Analysen
    
    Herausragend in puncto Leistungsumfang und Genauigkeit: Optimierte Anwendungspakete
    
    Unvergleichlicher Bedienkomfort: Mit drei einfachen Schritten zu genauen Analysen
    SPECTROCUBE
  - Das Mikro-ED-RFA-Spektrometer für optimierte Edelmetallanalysen und Compliance Screening
    
    Der anerkannte Maßstab für Edelmetallanalysen
    
    Der breite Elementbereich und die umfangreiche Kalibrationsdatenbank sorgen für höchste Genauigkeit bei Spurenelementen und höheren Gehalten
    
    Schnellste Messzeiten: Wählen Sie zwischen außergewöhnlich guten Ergebnissen bei durchschnittlicher Messzeit und Standard-Ergebnissen bei außergewöhnlich kurzen Messzeiten
    SPECTRO MIDEX
  - Schnelle, zuverlässige und genaue Elementanalysen in Fertigung, Labor und vor Ort
    
    Analytik in einem weiten Konzentrationsbereich, von Hauptkomponenten bis hin zu Spurenelementen
    
    Portables Leichtgewicht im robusten, platzsparenden Design
    
    Erhältlich mit kundenspezifischen Kalibrationen und vordefinierten Applikationspaketen
    
    Einzigartige iCAL-Standardisierung mit einer integrierten Probe in weniger als 5 Minuten
    SPECTROSCOUT
  - ED-RFA-Handspektrometer-Familie
    
    Alle wichtigen Elemente im Bereich von Mg- U
    
    Analyse, PMI, Werkstofferkennung, Sortierung, Umwelt- und Compliance Screening
    
    Laborähnliche Ergebnisse für viele Applikationen in wenigen Sekunden
    
    Umfangreiche Sicherheitsfunktionen
    SPECTRO xSORT
  - RFA-Produktfinder
  - RFA-Testmethoden
  - Zubehör
  - Funktionsweise der Röntgenfluoreszenzanalyse
- ED-RFA-Handspektrometer-Familie
  - Alle wichtigen Elemente im Bereich von Mg- U
  - Analyse, PMI, Werkstofferkennung, Sortierung, Umwelt- und Compliance Screening
  - Laborähnliche Ergebnisse für viele Applikationen in wenigen Sekunden
  - Umfangreiche Sicherheitsfunktionen
  RFA-Handspektrometer
- Mobile Metallanalysatoren
  - Marktführender mobiler Metallanalysator
    
    Kurze Analysezeiten: 2 s im Sortiermodus und ab 5 s im Analysenmodus
    
    Kohlenstoffbestimmung mit Bogen- und Funkenanregung
    
    Analyse von C, P, S, N, B und weiteren Elementen mit UV-Prüfsonde
    
    Alle Prüfsonden unterstützen Bogen- und Funkenanregung
    
    Einzigartiges iCAL 2.0: Ein-Proben-Standardisierung des gesamten Systems
    SPECTROTEST
  - Die einfache Wahl, wenn bei der Metallanalyse Fehler keine Option sind
    
    Ermüdungsarmer Betrieb
    
    Bahnbrechende, neue selbstregulierende Optik
    
    Einzigartige iCAL 2.0 Ein-Proben-Standardisierung des gesamten Systems
    
    Vereinfachte Software, die durch Plug-ins erweiterbar ist
    SPECTROPORT
  - ED-RFA-Handspektrometer-Familie
    
    Alle wichtigen Elemente im Bereich von Mg- U
    
    Analyse, PMI, Werkstofferkennung, Sortierung, Umwelt- und Compliance Screening
    
    Laborähnliche Ergebnisse für viele Applikationen in wenigen Sekunden
    
    Umfangreiche Sicherheitsfunktionen
    SPECTRO xSORT
  - Funktionsprinzip
  - Zubehör
- Stationäre Metallanalysatoren
  - Die Revolution der High-End-Metallanalyse
    
    Hochpräzise Messergebnisse
    
    Geringer Wartungsaufwand
    
    Exzellente Nachweisgrenzen
    
    Geräteabmessungen um 27% reduziert
    
    iCAL 2.0 – Ein-Proben-Standardisierung des gesamten Systems
    SPECTROLAB S
  - Metallanalyse ohne Kompromisse!
    
    Die einzigartige iCAL 2.0 Ein-Proben-Standardisierung sorgt für eine gleichbleibende Standardisierung ‒ auch bei den meisten Temperaturschwankungen ‒ und spart im Durchschnitt 30 Minuten täglich
    
    Um 30% bis 40% verbesserte Nachweisgrenzen im Vergleich zum Vorgängermodell (Beispiel: Eisen-, Aluminium- und Kupferbasis)
    
    Verglichen zu Vorgängermodellen bis zu 64 % geringerer Argonverbrauch im Standby
    
    Ideal für Routineanalysen sowie für Präzisionsanalysen bei Warenein- und -ausgangskontrollen sowie im Rahmen der Prozessüberwachung (einschließlich Stickstoff) in Gießereien – inkl. 10 Matrices, 65 Methoden und 59 Elemente
    SPECTROMAXx
  - Höchste Leistung und Zuverlässigkeit zu einem unschlagbaren Preis
    
    Problemlose Analyse
    
    Zuverlässige Ergebnisse
    
    Langzeit-Verfügbarkeit
    
    Keine teure Rekalibrierung dank iCAL
    
    Bestes Preis-Leistungsverhältnis
    SPECTROCHECK
  - Funkenspektrometer erklärt
- GDOES-Spektrometer
- Elementanalyse
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SPECTROLAB S

SPECTROLAB S – Eine echte Revolution in der High-End-Metallanalyse

ÜBERBLICK +
- Hochpräzise Messergebnisse in weniger als 20 Sekunden (Beispiel: niedriglegierter Stahl)
- Der regelmäßige Wartungsaufwand (Funkenstandreinigung) wurde um den Faktor 8 reduziert
- Durchschnittlich zweifache Verbesserung der Nachweisgrenzen für niedriglegierten Stahl; fünffache Verbesserung für reine Aluminiummetalle im Vergleich zu vorherigen Modellen
- Geräteabmessungen wurden um 27% reduziert
- iCAL 2.0 Ein-Proben-Standardisierung des gesamten Systems, spart 30 Minuten pro Tag
SPECTRO entwickelt als Innovationsführer seit mehr als 40 Jahren weltweit führende OES-Geräte. Jetzt hat SPECTRO den Einsatz von Halbleiterdetektoren dank der proprietären CMOS+Technologie perfektioniert, um die High-End-Funken-OES-Analyse zu revolutionieren. Das SPECTROLAB S ist eine Klasse für sich. Es wurde entwickelt, um schnellstmögliche Messungen, niedrigste Nachweisgrenzen, höchstmögliche Verfügbarkeit und größtmögliche Zukunftssicherheit zu gewährleisten.

Das SPECTROLAB S Funkenspektrometer verfügt über das weltweit erste CMOS-basierte Detektorsystem, das für die High-End-Metallanalyse perfektioniert wurde – dank SPECTROs proprietärer CMOS+T Technologie. Von Spurenelementen bis hin zu Multi-Matrix-Anwendungen bietet es eine extrem schnelle, hochpräzise und äußerst flexible Analyse.

Wenn es um den Probendurchsatz geht, trifft das SPECTROLAB S in Bezug auf die Geschwindigkeit genau die Anforderungen des Metallmarktes. Beispiel: Bei der Analyse von niedriglegiertem Stahl kann es hochgenaue Messungen in weniger als 20 Sekunden liefern!

Für jede Art von Analyse ist es das leistungsstärkste Funkenspektrometer, das heute für Primärmetallerzeuger erhältlich ist. Und es ist eine ebenso exzellente Lösung für Sekundärmetallhersteller, Automobil- und Luft- und Raumfahrthersteller sowie Hersteller von Fertigprodukten und Halbfabrikaten, Elektronik, Halbleitern und mehr.
ON-DEMAND WEBINARE +

Alle Webinare mit Bezug zum SPECTROLAB S finden Sie in unserer Resource Library.
SCHEMA +
VIDEO +
Hier finden Sie interessantes Videomaterial zum Thema SPECTROLAB S. Alternativ können Sie SPECTRO auch auf YouTube.com besuchen.
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- SPECTROLAB S - A True Revolution in High-End Metal Analysis
- SPECTRO iCAL 2.0
  
  Dank iCAL 2.0 bestechen unsere Metallanalysatoren durch eine unübertroffene Messstabilität – sogar bei äußeren Temperaturschwankungen.
- The Analysis of Carbon in Cast Iron
BROSCHÜREN +
- SPECTROLAB S (PDF, de)
- Produktübersichtsbroschüre (PDF, de)
- Case Study Voestalpine (PDF, de)
- SPECTRO Metalldatenbank (PDF, de)
- Performance Maintenance SPECTROLAB S (PDF, de)
WHITE PAPER +
- Whitepaper: Normkonforme Elementanalytik: Erfüllen Ihre Prüfungen die heutigen Anforderungen? (PDF, de)
Viele Anwender werden gegenwärtig erstmalig nach den neuen Versionen der ISO 9001 und der IATF 16949 auditiert. Dabei handelt es sich um die IATF 16949:2016 und die ISO 9001:2015. Die Stichtage, bis zu denen nach den Vorgängerversionen der Normen gearbeitet werden durfte, sind fast zeitgleich am 14. September 2018 (ISO 9001) bzw. am 16. September 2018 (IATF16949) abgelaufen.

Beide Normen sind dadurch gekennzeichnet, dass im Vergleich mit ihren Vorgängern erhöhte Anforderungen an die Durchführung von Messungen und Prüfungen gestellt werden. Diese Verschärfungen sind aber sinnvoll. Befolgt man die neuen Regeln, wird die Gefahr der Abgabe „falscher“ Ergebnisse deutlich minimiert. Solche Fehler können erhebliche Konsequenzen haben, z. B. Unfälle mit Personen- und Sachschäden, Rückrufaktionen usw. Ein schlüssiges System zur Vermeidung falscher Ergebnisse ist deshalb unbedingt zu begrüßen.

In diesem Papier werden die Eckpunkte der Normforderungen skizziert. Arbeitet man konform zu den aktuellen Normversionen, so berücksichtigen die Prüfungen den aktuellen Stand der Technik. Es ist hilfreich, dies im Schadensfall nachweisen zu können.

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- Whitepaper: PMT vs. CMOS - The Paradigm Shift in Metal Analyzer Detector Technologies (PDF, en)
Advanced complementary metal oxide semiconductor (CMOS) detectors made with proven integrated circuit technology have been developed for a new class of analyzers. These equal or exceed every benchmark of PMT-based performance. Example: they render reliable results on a greatly expanded number of matrices, elements, and compounds, and can add new ones via simple software updates.

That’s good news for large foundries and primary producers of steel, aluminum, or copper — as well as secondary metal processors, aerospace and automotive companies, testing laboratories, and governmental or academic labs. A new white paper details PMT issues as well as CMOS-based flexibility, sensitivity, stability, speed, and more.

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APPLIKATIONEN +
Applikationsberichte
- MMA-16: Cast Iron Analysis Using Spark OES
Cast iron alloys must be accurately identified and verified to meet the chemical composition specified by a customer or an industry. The production or use of unsuitable alloy cast iron carry the risk that for example the subsequent production process does not run correctly or that the components produced do not meet the customer’s requirements. Expensive rework, recalls or total loss of orders could be the result.

Mobile and stationary instruments can be used to analyze cast iron. To monitor a melting process, a stationary instrument must be used as the precision for carbon is higher than with a mobile instrument. For analyses in the field or a huge and heavy sample geometry, a mobile instrument can be extremely handy. The results are precise enough to determine the main elements carbon and silicon. For analyzing cast iron samples, whether it is a mobile or a stationary metal analyzer, an optimized method is used: Cast iron requires a much longer pre-spark time. The method is named Fe-20 or Fe-20MO on a mobile metal analyzer.

This application report shows how mobile and stationary spark OES instruments can be used to analyze cast iron. Differences in the performance of the two instrument categories are also shown, so that the appropriate metal analyzer can be selected depending on the requirements.

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- SMA-70: Die Analyse von Eisen und Stahl mit dem SPECTROLAB S
Das vollkommen neue SPECTROLAB S repräsentiert die nächste Generation von Funkenspektrometern mit fortschrittlicher Halbleiter-Detektortechnologie und zusätzlichen zeitaufgelösten Messfunktionen (CMOS+T). Dieser innovative Schritt dient der Verbesserung der Analyseleistung und bietet außerdem die Möglichkeiten für TRS (zeitaufgelöste Spektrometrie) und SSE (Einzelfunkenauswertung).
Diese beiden Optionen waren die letzten beiden verbliebenen Vorteile von Photomultiplier-Detektoren (PMT). Modifikationen am Auslese- und Anregungssystem, kombiniert mit verbesserten CMOS-Detektorfähigkeiten, haben diese letzten technischen/analytischen Einschränkungen überwunden.

Dieser Bericht zeigt die Leistungsfähigkeit des neuen SPECTROLAB S bei der Analyse von Eisen und Stahl.

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- SMA-71: Die Analyse von Aluminium und Aluminiumlegierungen mit dem SPECTROLAB S
Das vollkommen neue SPECTROLAB S repräsentiert die nächste Generation von Funkenspektrometern mit fortschrittlicher Halbleiter-Detektortechnologie und zusätzlichen zeitaufgelösten Messfunktionen (CMOS+T). Dieser innovative Schritt dient der Verbesserung der Analyseleistung und bietet außerdem die Möglichkeiten für TRS (zeitaufgelöste Spektrometrie) und SSE (Einzelfunkenauswertung).
Diese beiden Optionen waren die letzten beiden verbliebenen Vorteile von Photomultiplier-Detektoren (PMT). Modifikationen am Auslese- und Anregungssystem, kombiniert mit verbesserten CMOS-Detektorfähigkeiten, haben diese letzten technischen/analytischen Einschränkungen überwunden.

Dieser Bericht zeigt die Leistungsfähigkeit des neuen SPECTROLAB S bei der Analyse von Aluminium und Aluminiumlegierungen.

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- SMA-72: Die Analyse von Kupfer und Kupferlegierungen mit dem SPECTROLAB S
Das vollkommen neue SPECTROLAB S repräsentiert die nächste Generation von Funkenspektrometern mit fortschrittlicher Halbleiter-Detektortechnologie und zusätzlichen zeitaufgelösten Messfunktionen (CMOS+T). Dieser innovative Schritt dient der Verbesserung der Analyseleistung und bietet außerdem die Möglichkeiten für TRS (zeitaufgelöste Spektrometrie) und SSE (Einzelfunkenauswertung).
Diese beiden Optionen waren die letzten beiden verbliebenen Vorteile von Photomultiplier-Detektoren (PMT). Modifikationen am Auslese- und Anregungssystem, kombiniert mit verbesserten CMOS-Detektorfähigkeiten, haben diese letzten technischen/analytischen Einschränkungen überwunden.

Dieser Bericht zeigt die Leistungsfähigkeit des neuen SPECTROLAB S bei der Analyse von Kupfer und Kupferlegierungen.

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- SMA-73: Die Analyse von Nickel und Nickellegierungen mit dem SPECTROLAB S
Das vollkommen neue SPECTROLAB S repräsentiert die nächste Generation von Funkenspektrometern mit fortschrittlicher Halbleiter-Detektortechnologie und zusätzlichen zeitaufgelösten Messfunktionen (CMOS+T). Dieser innovative Schritt dient der Verbesserung der Analyseleistung und bietet außerdem die Möglichkeiten für TRS (zeitaufgelöste Spektrometrie) und SSE (Einzelfunkenauswertung).
Diese beiden Optionen waren die letzten beiden verbliebenen Vorteile von Photomultiplier-Detektoren (PMT). Modifikationen am Auslese- und Anregungssystem, kombiniert mit verbesserten CMOS-Detektorfähigkeiten, haben diese letzten technischen/analytischen Einschränkungen überwunden.

Dieser Bericht zeigt die Leistungsfähigkeit des neuen SPECTROLAB S bei der Analyse von Nickel und Nickellegierungen.

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- SMA-74: Die Analyse von Zink und Zinklegierungen mit dem SPECTROLAB S
Das vollkommen neue SPECTROLAB S repräsentiert die nächste Generation von Funkenspektrometern mit fortschrittlicher Halbleiter-Detektortechnologie und zusätzlichen zeitaufgelösten Messfunktionen (CMOS+T). Dieser innovative Schritt dient der Verbesserung der Analyseleistung und bietet außerdem die Möglichkeiten für TRS (zeitaufgelöste Spektrometrie) und SSE (Einzelfunkenauswertung).
Diese beiden Optionen waren die letzten beiden verbliebenen Vorteile von Photomultiplier-Detektoren (PMT). Modifikationen am Auslese- und Anregungssystem, kombiniert mit verbesserten CMOS-Detektorfähigkeiten, haben diese letzten technischen/analytischen Einschränkungen überwunden.

Dieser Bericht zeigt die Leistungsfähigkeit des neuen SPECTROLAB S bei der Analyse von Zink und Zinklegierungen.

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- SMA-75: Die Analyse von hochreinem Zinc mit dem SPECTROLAB S
Das vollkommen neue SPECTROLAB S repräsentiert die nächste Generation von Funkenspektrometern mit fortschrittlicher Halbleiter-Detektortechnologie und zusätzlichen zeitaufgelösten Messfunktionen (CMOS+T). Dieser innovative Schritt dient der Verbesserung der Analyseleistung und bietet außerdem die Möglichkeiten für TRS (zeitaufgelöste Spektrometrie) und SSE (Einzelfunkenauswertung).
Diese beiden Optionen waren die letzten beiden verbliebenen Vorteile von Photomultiplier-Detektoren (PMT). Modifikationen am Auslese- und Anregungssystem, kombiniert mit verbesserten CMOS-Detektorfähigkeiten, haben diese letzten technischen/analytischen Einschränkungen überwunden.

Dieser Bericht zeigt die Leistungsfähigkeit des neuen SPECTROLAB S bei der Analyse von hochreinem Zink.

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- SMA-76: Die Analyse von Blei und Bleilegierungen mit dem SPECTROLAB S
Das vollkommen neue SPECTROLAB S repräsentiert die nächste Generation von Funkenspektrometern mit fortschrittlicher Halbleiter-Detektortechnologie und zusätzlichen zeitaufgelösten Messfunktionen (CMOS+T). Dieser innovative Schritt dient der Verbesserung der Analyseleistung und bietet außerdem die Möglichkeiten für TRS (zeitaufgelöste Spektrometrie) und SSE (Einzelfunkenauswertung).
Diese beiden Optionen waren die letzten beiden verbliebenen Vorteile von Photomultiplier-Detektoren (PMT). Modifikationen am Auslese- und Anregungssystem, kombiniert mit verbesserten CMOS-Detektorfähigkeiten, haben diese letzten technischen/analytischen Einschränkungen überwunden.

Dieser Bericht zeigt die Leistungsfähigkeit des neuen SPECTROLAB S bei der Analyse von Blei und Bleilegierungen.

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- SMA-77: Die Analyse von hochreinem Aluminium mit dem SPECTROLAB S
Das vollkommen neue SPECTROLAB S repräsentiert die nächste Generation von Funkenspektrometern mit fortschrittlicher Halbleiter-Detektortechnologie und zusätzlichen zeitaufgelösten Messfunktionen (CMOS+T). Dieser innovative Schritt dient der Verbesserung der Analyseleistung und bietet außerdem die Möglichkeiten für TRS (zeitaufgelöste Spektrometrie) und SSE (Einzelfunkenauswertung).
Diese beiden Optionen waren die letzten beiden verbliebenen Vorteile von Photomultiplier-Detektoren (PMT). Modifikationen am Auslese- und Anregungssystem, kombiniert mit verbesserten CMOS-Detektorfähigkeiten, haben diese letzten technischen/analytischen Einschränkungen überwunden.

Dieser Bericht zeigt die Leistungsfähigkeit des neuen SPECTROLAB S bei der Analyse von hochreinem Aluminium.

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- SMA-78: Die Analyse von hochreinem Blei mit dem SPECTROLAB S
Das vollkommen neue SPECTROLAB S repräsentiert die nächste Generation von Funkenspektrometern mit fortschrittlicher Halbleiter-Detektortechnologie und zusätzlichen zeitaufgelösten Messfunktionen (CMOS+T). Dieser innovative Schritt dient der Verbesserung der Analyseleistung und bietet außerdem die Möglichkeiten für TRS (zeitaufgelöste Spektrometrie) und SSE (Einzelfunkenauswertung).
Diese beiden Optionen waren die letzten beiden verbliebenen Vorteile von Photomultiplier-Detektoren (PMT). Modifikationen am Auslese- und Anregungssystem, kombiniert mit verbesserten CMOS-Detektorfähigkeiten, haben diese letzten technischen/analytischen Einschränkungen überwunden.

Dieser Bericht zeigt die Leistungsfähigkeit des neuen SPECTROLAB S bei der Analyse von hochreinem Blei.

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- SMA-79: Die Analyse von Zinn und Zinnlegierungen mit dem SPECTROLAB S
Das vollkommen neue SPECTROLAB S repräsentiert die nächste Generation von Funkenspektrometern mit fortschrittlicher Halbleiter-Detektortechnologie und zusätzlichen zeitaufgelösten Messfunktionen (CMOS+T). Dieser innovative Schritt dient der Verbesserung der Analyseleistung und bietet außerdem die Möglichkeiten für TRS (zeitaufgelöste Spektrometrie) und SSE (Einzelfunkenauswertung).
Diese beiden Optionen waren die letzten beiden verbliebenen Vorteile von Photomultiplier-Detektoren (PMT). Modifikationen am Auslese- und Anregungssystem, kombiniert mit verbesserten CMOS-Detektorfähigkeiten, haben diese letzten technischen/analytischen Einschränkungen überwunden.

Dieser Bericht zeigt die Leistungsfähigkeit des neuen SPECTROLAB S bei der Analyse von Zinn und Zinnlegierungen.

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- SMA-80: Die Analyse von Kobalt und Kobaltlegierungen mit dem SPECTROLAB S
Das vollkommen neue SPECTROLAB S repräsentiert die nächste Generation von Funkenspektrometern mit fortschrittlicher Halbleiter-Detektortechnologie und zusätzlichen zeitaufgelösten Messfunktionen (CMOS+T). Dieser innovative Schritt dient der Verbesserung der Analyseleistung und bietet außerdem die Möglichkeiten für TRS (zeitaufgelöste Spektrometrie) und SSE (Einzelfunkenauswertung).
Diese beiden Optionen waren die letzten beiden verbliebenen Vorteile von Photomultiplier-Detektoren (PMT). Modifikationen am Auslese- und Anregungssystem, kombiniert mit verbesserten CMOS-Detektorfähigkeiten, haben diese letzten technischen/analytischen Einschränkungen überwunden.

Dieser Bericht zeigt die Leistungsfähigkeit des neuen SPECTROLAB S bei der Analyse von Kobalt und Kobaltlegierungen.

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- SMA-81: Die Analyse von hochreinem Kupfer mit dem SPECTROLAB S
Das vollkommen neue SPECTROLAB S repräsentiert die nächste Generation von Funkenspektrometern mit fortschrittlicher Halbleiter-Detektortechnologie und zusätzlichen zeitaufgelösten Messfunktionen (CMOS+T). Dieser innovative Schritt dient der Verbesserung der Analyseleistung und bietet außerdem die Möglichkeiten für TRS (zeitaufgelöste Spektrometrie) und SSE (Einzelfunkenauswertung).
Diese beiden Optionen waren die letzten beiden verbliebenen Vorteile von Photomultiplier-Detektoren (PMT). Modifikationen am Auslese- und Anregungssystem, kombiniert mit verbesserten CMOS-Detektorfähigkeiten, haben diese letzten technischen/analytischen Einschränkungen überwunden.

Dieser Bericht zeigt die Leistungsfähigkeit des neuen SPECTROLAB S bei der Analyse von hochreinem Kupfer.

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- SMA-82: The Analysis of Magnesium and its Alloys with SPECTROLAB-S
The all new SPECTROLAB S represents the next generation of stationary metal analyzer equipped with advanced semiconductor detector technology combined with additional time resolved measurement capabilities (CMOS+T). This innovative step improves the analytical performance and also offers the ability of TRS (time resolved spectroscopy) and SSE (single spark evaluation). These two options were the remaining two advantages of PMT (photo multiplier tube) detectors.

Modifications regarding read-out and excitation system in combination with improved CMOS detector capabilities have overcome these final technical / analytical limitations.

This report shows the capabilities of the new SPECTROLAB S for the analysis of magnesium and its alloys.

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- SMA-83: The Analysis of Titanium and its Alloys with SPECTROLAB-S
The all new SPECTROLAB S represents the next generation of stationary metal analyzer equipped with advanced semiconductor detector technology combined with additional time resolved measurement capabilities (CMOS+T). This innovative step improves the analytical performance and also offers the ability of TRS (time resolved spectroscopy) and SSE (single spark evaluation). These two options were the remaining two advantages of PMT (photo multiplier tube) detectors.

Modifications regarding read-out and excitation system in combination with improved CMOS detector capabilities have overcome these final technical / analytical limitations.

This report shows the capabilities of the new SPECTROLAB S for the analysis of titanium and its alloys.

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- SMA-84: The Analysis of High-Purity Gold with SPECTROLAB-S
The all new SPECTROLAB S represents the next generation of stationary metal analyzer equipped with advanced semiconductor detector technology combined with additional time resolved measurement capabilities (CMOS+T). This innovative step improves the analytical performance and also offers the ability of TRS (time resolved spectroscopy) and SSE (single spark evaluation). These two options were the remaining two advantages of PMT (photo multiplier tube) detectors.

Modifications regarding read-out and excitation system in combination with improved CMOS detector capabilities have overcome these final technical / analytical limitations.

This report shows the capabilities of the new SPECTROLAB S for the analysis of high-purity gold.

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- SMA-85: The Analysis of High-Purity Silver with SPECTROLAB-S
The all new SPECTROLAB S represents the next generation of stationary metal analyzer equipped with advanced semiconductor detector technology combined with additional time resolved measurement capabilities (CMOS+T). This innovative step improves the analytical performance and also offers the ability of TRS (time resolved spectroscopy) and SSE (single spark evaluation). These two options were the remaining two advantages of PMT (photo multiplier tube) detectors.

Modifications regarding read-out and excitation system in combination with improved CMOS detector capabilities have overcome these final technical / analytical limitations.

This report shows the capabilities of the new SPECTROLAB S for the analysis of high-purity silver.

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- SMA-86: Detection and Analysis of Inclusions Using Single Spark Evaluation Technology
The all new SPECTROLAB S represents the next generation of stationary metal analyzer equipped with advanced semiconductor detector technology combined with additional time resolved measurement capabilities (CMOS+T). This innovative step improves the analytical performance and also offers the ability of TRS (time resolved spectroscopy) and SSE (single spark evaluation).

These two options were the remaining two advantages of PMT (photo multiplier tube) detectors. Modifications regarding read out and excitation system in combination with improved CMOS detector capabilities have overcome these final technical / analytical limitations.

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- SMA-99: Analytical Solutions for Aluminum Recycling
Recycling aluminum (Al) alloys increasingly helps shape a sustainable economy, offering both environmental and financial benefits. Aluminum alloys can be reprocessed many times without losing useful properties. Additionally, recycling uses only 5 % of the energy required to extract and refine new aluminum.

Specialized aluminum alloys — developed for applications such as aviation, transportation, medical, piping, defense, communications and automotive — command premium prices. Supply chain fluctuations can impact price and availability; for example, a magnesium (Mg) shortage has recently affected production of aluminum grades that require this alloying element.

It’s therefore important for recyclers, refiners/remelters, producers, and end users to ascertain exact elemental compositions in incoming scrap streams, in-process grades, and finished products. This report highlights classes of elemental analyzers that can provide easy identification and measurement of aluminum alloys.

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- SPECTROLAB S User Manual
- Pressebericht
- Pressebilder

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