Dieses Whitepaper erläutert in Kurzform Alternativen der Plasmabetrachtung und geht auf die jeweiligen Stärken und Schwächen der Technologien ein.
Es wird die grundsätzliche Funktionsweise der Technologien dargestellt und erklärt, warum das Plasma-Interface für den jeweiligen Anwendungsfall ein wesentliches Auswahlkriterium darstellt.
Das Verständnis von Ansätzen wie „axial“, „radial“ oder „dual view“ ist entscheidend für die Überlegung, welches ICP-OES-Gerät sich für welche spezifischen Analyseaufgaben am besten eignet. Dieses Whitepaper erläutert in Kurzform die verschiedenen Möglichkeiten der Plasmabetrachtung, die Stärken und Schwächen der Technologien und zeigt eine Reihe typischer Anwendungsbeispiele.
Darüber hinaus stellt dieser Bericht aktuelle technologische Entwicklungen im Bereich der Plasmabetrachtung vor, welche die bisherige Lehrmeinung verändern und Entscheidungen hinsichtlich der Wahl der Technik beeinflussen dürften.
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