Application Brief

Die Analyse von Nickel und Nickellegierungen

Das vollkommen neue SPECTROLAB S repräsentiert die nächste Generation von Funkenspektrometern mit fortschrittlicher Halbleiter-Detektortechnologie und zusätzlichen zeitaufgelösten Messfunktionen (CMOS+T). Dieser innovative Schritt dient der Verbesserung der Analyseleistung und bietet außerdem die Möglichkeiten für TRS (zeitaufgelöste Spektrometrie) und SSE (Einzelfunkenauswertung).
Diese beiden Optionen waren die letzten beiden verbliebenen Vorteile von Photomultiplier-Detektoren (PMT). Modifikationen am Auslese- und Anregungssystem, kombiniert mit verbesserten CMOS-Detektorfähigkeiten, haben diese letzten technischen/analytischen Einschränkungen überwunden.

Dieser Bericht zeigt die Leistungsfähigkeit des neuen SPECTROLAB S bei der Analyse von Nickel und Nickelliegerungen.